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可控裂结芯片上的单分子电子学研究
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报告题目:
NEC单片机技术研讨会
 报告人:
NEC公司与清华-NEC中心的技术专家
报告时间:
2005-12-23 15:00
报告地点:
FIT大楼多功能厅
主办单位:
清华-NEC中心 自动化系研究生会
  简介:

单片机发展历程、技术前沿与发展趋势。
NEC公司介绍及其在单片机领域的业绩与技术路线。
通用8位/32位微控制器的开发和应用介绍。

活动现场将赠送200余套内置NEC 78K0单片机的闪光胸牌
(可与PC连接进行编程、下载及扩展开发)。
提问者可获赠精美礼品,更有机会抽奖赢取最新NEC单片机开发工具。

 

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