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面向多电飞机的机载微电网
新颖有机大环化合物及功能分子组装
全球变化科学紫荆论坛第405期:平流层-对流层相互作用在季节可预报性中的作用
DRAM芯片测试原理及实践
报告题目:
超越技术乐观主义与技术悲观主义
 报告人:
吴国盛
北京大学哲学系教授
报告时间:
2007-03-10 15:00
报告地点:
新斋335室
主办单位:
清华大学科学哲学与技术哲学沙龙
  简介:

清华大学科学哲学与技术哲学沙龙第61期

题目:超越技术乐观主义与技术悲观主义
主讲人:吴国盛(北京大学哲学系教授)
评论人:高亮华(清华大学科学技术与社会研究中心副教授)
时间:2007年3月10日(周六)下午3:00-5:30
地址:清华大学新斋335室(图书馆北)
联系电话:62794966或62798443转228、62773013
联系人:陈宜瑾 史启娴 
 

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