报告摘要：Advances in ASIC fabrication enabled the use of high Z semiconductor crystals bonded to CMOS chips as imaging systems for ionizing radiation. These systems can count individual X-ray photons on a per pixel basis and discriminate the energy of the incident X-ray photons. This technology enables further development of medical and industrial spectral imaging technology. In this talk, we will introduce the key technology of such a system and its applications.

报告人简介：Alex Stewart博士毕业于英国牛津大学。在探测器的开发与图像处理的领域具有20年以上的经验。在其任教于美国布兰迪斯大学期间，曾带领团队研发了世界上最早的断层融合重建软件并投放市场。之后的几年中，Stewart博士通过其在3D成像技术上的发明专利与Edward Bullard先生联合，并以他们的名字Alex和Ed-命名，联合创办了基于CMOS技术、主要用于临床数字化乳腺断层扫描的X射线探测器生产公司--Dexela(目前为帕金埃尔默公司旗下的子公司)。Stewart博士作为XCounter的首席数学家，专注于研发使用方便、易于集成，并可适用于工业无损检测、医疗、安检、食品加工等多领域的高性能的探测器。他希望以自己研发世界前沿X射线探测器的经验和能力，与中国地区的广大用户合作，联合开发下一代具有光子计数、能量区分、高分辨率成像等能力的X射线成像设备。  
 
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