报告摘要：

加速器质谱（AMS）是基于加速器和离子探测器的一种同位素质谱仪。AMS因具有排除分子本底和同量异位素本底的能力而极大地提高了测量灵敏度（比常规MS 高出一百万倍以上）。因此，AMS能够广泛的应用于 核科学、生命科学、环境与资源、材料、地质与考古等许多学科。报告 将介绍 AMS原理，仪器结构，技术发展，以及技术与应用的最新进展等。

报告人简介：

姜山，二级研究员，博士生导师，国防有突出贡献的中青年专家。1983年毕业于兰州大学核物理专业。曾任北京串列加速器核物理国家实验室常务副主任，现任国际加速器质谱专业委员会委员（亚洲唯一一位），东亚/亚太地区加速器质谱协会主席，启先核科技有限公司创始人/董事长。

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曾志   zengzhi@tsinghua.edu