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学术报告会（2002年10月25日） |
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学术报告会（2002年10月25日）
报告题目：New Developments in Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
飞行时间二次离子质谱学(TOF-SIMS)的新进展
报告人： Prof. Dr. A.Benninghoven
国际二次离子质谱学会议主席，静态二次离子质谱学奠基人
报告时间：2002年10月25日 下午3：00
报告地点：中央主楼接待厅
报告人简介：
Alfred Benninghoven先生是德国明斯特（Muenster）大学的荣誉教授，明斯特ION-TOF公司的董事长。他于1961年在德国Cologne大
学获固体物理学博士学位，1972－1999年任明斯特大学教授和物理研究所所长。
他研究的领域是：离子与表面的相互作用，二次离子发射和表面分析。他不仅致力于这些领域的基础研究，更致力于仪器开发和分析应用。他把二次离子质谱（SIMS）发展为表面
分析技术，由于对静态二次离子质谱学（Static SIMS）发展的杰出贡献，于1984年荣获美国真空学会（AVS）的Gaede-Langmuir奖。他是《二次离
子质谱学》专著的第一作者，曾发表或合作发表过三百余篇论文。1977－1983年曾任德国真空学会会长，1977年他发起和组织了两年一届的国际二次离子质谱学会议，从
此一直是该会议论文集的第一主编。他是Muenster大学让权易股ION-TOF公司和两个分析公司的合作创始人。
A.Benninghoven教授热爱中国，热心致力于发展与中国的科技交流与合作。他曾邀请过许多中国学者到明斯特大学做合作研究或学术访问。并曾多次到中国访问。他曾
应邀担任中国科学院北京真空物理实验室学术委员，2000年起任中国真空杂志的国际顾问。
欢迎大家参加！！！！
校学术委员会
2002年10月21日
附件：摘要与译文.doc
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