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美国工程院院士、国际知名统计学家吴建福教授清华大学演讲会
Lecture at Tsinghua University by Prof. Chien-fu Jeff Wu
质量改进：从汽车和芯片到纳米和生物
Quality improvement: from autos and chips to nano and bio
主讲人简介：
吴建福(C. F. Jeff Wu)教授于1971年毕业于台湾大学数学系，1976年在加州大学伯克利分校获统计学博士学位。现任美国乔治亚理工学院工业与系统工程系Coca Cola讲座教授。吴教授于1987年获COPSS奖，2000年在台湾被选为中研院院士，2004年作为第一位统计学者当选美国国家工程院院士，也是第一位华人统计学者获此殊荣。吴教授的研究领域为试验设计和工程统计，在统计研究的筹划、分析和阐释方面做出了基础性贡献，对统计的工程实践具有深刻影响。学术界评价他的贡献 “始终是专业严格性与实际重要性的理想结合”，“创建了一套现代试验设计体系，培养了一代质量科学专业工作者和教授”。
演讲摘要：
从休哈特(Shewhart)在统计过程控制方向开创性的工作，到戴明(Deming)在质量管理领域影响深远的成就，质量改进有着辉煌的历史。在这些工作和成就中，统计概念和工具扮演着至关重要的角色。随着工程应用变得日趋复杂，我们也同样需要更复杂的统计工具来解决这些实际问题。在过去的三十年间，越来越多的试验设计与分析方法，特别是稳健参数设计，被用于质量改进的实践。本报告将首先回顾稳健参数设计的主要思想，特别是这些思想的工程来源及统计理论。然后，报告将讨论更多的在现有方法基础上扩展获得的新的成果，包括对反馈控制及操作窗口的使用。为了获得更有效的解决方案，我们通常需要结合专业领域的知识。本报告也将展示数据和知识融合的技术。在先进制造和高技术应用中，种类多、数量小及附加值高的特点将形成新的挑战和促成可能的研究模式的转变。本报告将试图对一些新的方向和技术发展趋势进行预测。来自传统制造（汽车、芯片）和现代制造（纳米、生物）的各种真实案例将贯穿本讲座。
演讲时间：2013-5-29（周三）下午14:00-15:30
（凭证件入场，提前15分钟入场完毕）
地点：理学院报告厅
演讲语言：英语
主持人：郑力教授
主办：国际合作与交流处、工业工程系
特别提醒：请于 5月29日上午13：45前入场并携带本人学生证件。
联系电话：62796650
国际合作与交流处、研究生院、教务处 |
